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Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀

描述:Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀
DataRay的Beam'R2非常適合許多激光光束輪廓分析應用。利用標準的2.5μm狹縫和較大的刀口狹縫,Beam'R2能夠測量直徑小至2μm的光束。利用Si和InGaAs或擴展InGaAs的選件,Beam'R2可以對190 nm至2500 nm的光束進行輪廓分析。掃描狹縫光斑分析儀提供比基于相機的系統更高的分辨率
更新時間:2026-01-29
產品型號:
所在城市:北京市
廠商性質:代理商
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